Characterization of peening-induced residual stresses on mumetal material using needle probes technique

Autor:	Tene Deffo, Yves Armand, Gupta, Bhaawan, Ducharne, Benjamin, Tsafack, Pierre, Morel, Laurent
Přispěvatelé:	University of Buéa, Laboratoire de Génie Electrique et Ferroélectricité (LGEF), Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2019
Předmět:	[PHYS]Physics [physics] [SPI]Engineering Sciences [physics] Residual stress Point probe characterization ComputingMilieux_MISCELLANEOUS Peen shot impact
Zdroj:	2019 Joint MMM-Intermag, Jan 2019 2019 Joint MMM-Intermag, Jan 2019, Jan 2019, Washington, United States
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::630013135dfbe805dcaa7dc30cfa2005 https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02560987 Zobrazit plný text záznamu