SEU sensitivity trends of three successive generations of COTS SRAMs at ultra low bias voltage

Autor: Clemente, J.A., Fraire, J.A., Solinas, M., FRANCO, F.J., Villa, F., Rey, S., Baylac, M., Puchner, Helmut, MECHA, H., Velazco, R.
Přispěvatelé: Universidad Complutense de Madrid [Madrid] ( UCM ), Bioingénierie tissulaire ( BIOTIS ), Université Bordeaux Segalen - Bordeaux 2-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale ( INSERM ), Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture ( TIMA ), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 ( UJF ) -Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology ( Grenoble INP ) -Institut National Polytechnique de Grenoble ( INPG ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Université Grenoble Alpes ( UGA ), Complutense University of Madrid ( UCM ), Laboratoire de Physique Subatomique et de Cosmologie ( LPSC ), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 ( UJF ) -Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology ( Grenoble INP ) -Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS ( IN2P3 ) -Institut Polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology-Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -Université Grenoble Alpes ( UGA ), Cypress Semiconductor, Universidad Complutense de Madrid [Madrid] (UCM), Bioingénierie tissulaire (BIOTIS), Université Bordeaux Segalen - Bordeaux 2-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM), Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Complutense University of Madrid (UCM), Laboratoire de Physique Subatomique et de Cosmologie (LPSC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Institut Polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Universidad Complutense de Madrid = Complutense University of Madrid [Madrid] (UCM), Université de Bordeaux (UB)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM), Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019]), Cypress Semiconductor [San Jose]
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2017
Předmět:
Zdroj: Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS 2017)
Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS 2017), Oct 2017, Geneva, Switzerland. 2017, 〈http://radecs2017.com/Radecs2017/index.php#home〉
Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS 2017), Oct 2017, Geneva, Switzerland. 2017
Popis: International audience; Radiation tests with 14.2 MeV neutrons were performed at ultra low bias voltages on COTSSRAMs manufactured on 130nm, 90nm and 65nm CMOS processes. Experimental resultswith power supplies in 0.5V-3.17V are presented and discussed
Databáze: OpenAIRE
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