Direct observation of irradiation-induced nanocavity shrinkage in Si
| Autor: | Zhu, X.F., Williams, J.S., Conway, M.J., Ridgway, M.C., Fortuna, F., Ruault, M.O., Bernas, H. |
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| Přispěvatelé: | Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse (CSNSM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2001 |
| Zdroj: | Applied Physics Letters Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2001, 79, pp.3416-3418 |
| ISSN: | 0003-6951 |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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