Paramètres d’influence en nanométrologie thermique par microscopie à sonde locale

Autor:	Guen, E., Renahy, D., Chapuis, P-O., Gomés, S.
Přispěvatelé:	CETHIL, Laboratoire, Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon (CETHIL), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2016
Předmět:	[SPI.MECA.THER]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Thermics [physics.class-ph] ComputingMilieux_MISCELLANEOUS [SPI.MECA.THER] Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Thermics [physics.class-ph]
Zdroj:	Minicolloque Nanoconduction et Nanoradiation, Journées de la Matière Condensée Minicolloque Nanoconduction et Nanoradiation, Journées de la Matière Condensée, Aug 2016, Bordeaux, France
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5d7ac9e1f6a9abf0dd99a366d50771c3 https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01464988 Zobrazit plný text záznamu