A versatile emittance meter and profile monitor

Autor: Kremers, H. R., Beijers, J. P. M., Sytze Brandenburg
Přispěvatelé: KVI - Center for Advanced Radiation Technology, Damage and Repair in Cancer Development and Cancer Treatment - 1
Jazyk: Dutch; Flemish
Rok vydání: 2008
Zdroj: Proceedings of the 8th European DIPAC07, Venice, Italy 2007
Scopus-Elsevier
Databáze: OpenAIRE