Back bias ramping and photoionization spectroscopy analysis of GaN-on-Si HFETs
Autor: | Pooth, A., Martin, T., Michael Uren, Martin Kuball |
---|---|
Zdroj: | Scopus-Elsevier University of Bristol-PURE |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |
Autor: | Pooth, A., Martin, T., Michael Uren, Martin Kuball |
---|---|
Zdroj: | Scopus-Elsevier University of Bristol-PURE |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |