Etude et caractérisation de nanomatériaux SiO2
Autor: | ARKHIS, M., Khouchaf, L., BAHRAOUI, E. EL |
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Přispěvatelé: | Faculté des Sciences et Techniques [Settat] (FSTS), Université Hassan 1er [Settat], École des Mines de Douai (Mines Douai EMD), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg (IPCMS), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et nanosciences d'Alsace, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Réseau nanophotonique et optique, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Université de Strasbourg (UNISTRA) |
Jazyk: | angličtina |
Rok vydání: | 2012 |
Předmět: | |
Zdroj: | Fourth Conference on Nuclear and Conventional Analytical Techniques and their Applications Fourth Conference on Nuclear and Conventional Analytical Techniques and their Applications, Oct 2012, Rabat, Morocco |
Popis: | International audience; abstract simple |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |