Etude et caractérisation de nanomatériaux SiO2

Autor:	ARKHIS, M., Khouchaf, L., BAHRAOUI, E. EL
Přispěvatelé:	Faculté des Sciences et Techniques [Settat] (FSTS), Université Hassan 1er [Settat], École des Mines de Douai (Mines Douai EMD), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg (IPCMS), Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Matériaux et nanosciences d'Alsace, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de la Santé et de la Recherche Médicale (INSERM)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Réseau nanophotonique et optique, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Strasbourg (UNISTRA)-Université de Haute-Alsace (UHA) Mulhouse - Colmar (Université de Haute-Alsace (UHA))-Université de Strasbourg (UNISTRA)
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2012
Předmět:	[CHIM.THEO]Chemical Sciences/Theoretical and/or physical chemistry [INFO]Computer Science [cs] ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Zdroj:	Fourth Conference on Nuclear and Conventional Analytical Techniques and their Applications Fourth Conference on Nuclear and Conventional Analytical Techniques and their Applications, Oct 2012, Rabat, Morocco
Popis:	International audience; abstract simple
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4fdb4bff8b4ef2e664401187d1fd33cb https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03427929 Zobrazit plný text záznamu