Defects in topmost oxide layers probed by resonant photoelectron diffraction

Autor: Bruno Domenichini
Přispěvatelé: Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne ( LICB ), Université de Bourgogne ( UB ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Birot, Agnès, Laboratoire Interdisciplinaire Carnot de Bourgogne (LICB), Université de Bourgogne (UB)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2010
Předmět:
Zdroj: SF2M Annual Meeting 2010
SF2M Annual Meeting 2010, Jun 2010, Paris, France
HAL
Popis: International audience
Databáze: OpenAIRE