Caractérisation de matériaux à l’aide d’une cavité Klystron : Détermination des Caractéristiques Diélectriques et de l’épaisseur de l’échantillon
| Autor: | Anoumou, APEDJINOU, Cros, Dominique, Madrangeas, Valérie, Passerieux, Damien, Aubourg, Michel, Le Floch, Jean-Michel, Tobar, Michael |
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| Přispěvatelé: | MINACOM (XLIM-MINACOM), XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ARC Centre of Excellence Engineered Quantum Systems (EQuS), The University of Western Australia (UWA) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2015 |
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| Zdroj: | Quatrième colloque francophone PLUridisciplinaire sur les Matériaux, l’Environnement et l’Electronique (PLUMEE 2015) Quatrième colloque francophone PLUridisciplinaire sur les Matériaux, l’Environnement et l’Electronique (PLUMEE 2015), Jun 2015, Limoges, France |
| Popis: | National audience; L’utilisation de la cavité de type klystron dans le domaine microonde présente certains avantages liés notamment aux dimensions de la structure qui sont très inférieures à la longueur d’onde. Dans cet article nous présentons une cavité munie d’un système de couplage original conduisant à une réponse en fréquence proche de celle des résonateurs piézoélectriques. Ce type de réponse permet lors de la caractérisation des matériaux de remonter à la fois à leur permittivité complexe et à leur épaisseur. La bonne connaissance des épaisseurs notamment dans le cas des couches minces permet d’obtenir des caractéristiques diélectriques très précises. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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