In-situ TEM studies of materials under ion beams: JANNuS dual beam TEM

Autor: Kaïtasov, O., Fortuna, F., Oliviero, E., Bachelet, C., Delbecq, L., Bourçois, J., Moeyaert, J., Ledu, D., Viaud, T., Pitrel, S., Gentils, A., Décamps, B.
Přispěvatelé: Hadrossek, Christine, CSNSM SEMI, Centre de Spectrométrie Nucléaire et de Spectrométrie de Masse (CSNSM), Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CSNSM PS2, Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Centre de Sciences Nucléaires et de Sciences de la Matière (CSNSM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Physique Nucléaire et de Physique des Particules du CNRS (IN2P3)-Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2011
Předmět:
Zdroj: IBA 20th international conference on Ion Beam Analysis
IBA 20th international conference on Ion Beam Analysis, 2011, Itapema, Brazil
Databáze: OpenAIRE