Caractérisation et analyse des effets de pièges électriques sur la fiabilité de HEMTS AlGaN/GaN

Autor:	Berthet, F., Guhel, Y., Galous, H., Boudart, B., Trolet, J.L., Piccione, M., Sbrugnera, V., Grimbert, B., Gaquière, Christophe
Přispěvatelé:	Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Jazyk:	francouzština
Rok vydání:	2011
Předmět:	[SPI]Engineering Sciences [physics]
Zdroj:	Actes des 17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011 17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011 17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, France. pp.4C3, 1-4 17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, Brest, France. pp.4C3, 1-4
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3b106000cf2799e1d03cb758746f3b3c https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00603136 Zobrazit plný text záznamu