Deriving an Electrical Model for Delay Faults Caused by Crosstalk Aggravated Resistive Short Defects

Autor:	Houarche, Nicolas, Czutro, Alejandro, Comte, Mariane, Engelke, Piet, Polian, Ilia, Becker, Bernd, Renovell, Michel
Přispěvatelé:	Peridier, Martine, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Albert-Ludwigs-Universität Freiburg, Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2009
Předmět:	[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Zdroj:	LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop LATW'09: 10th Latin-American Test Workshop, Mar 2009, Armaçao dos Buzios, Brazil, pp.N/A
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::34886cf0a9bf1dc7d15a716c06bcfe70 https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00367708 Zobrazit plný text záznamu