Characterization of black silicon structural and electrical properties for photovoltaics applications

Autor: Torres, R., Derrien, Thomas, Vervisch, V., Halbwax, Mathieu, Torregrosa, F., Roux, L., Delaporte, P., Sarnet, T., Sentis, M.
Přispěvatelé: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2010
Zdroj: European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium I : Advanced silicon materials research for electronic and photovoltaic applications II
European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2010, Symposium I : Advanced silicon materials research for electronic and photovoltaic applications II, 2010, Strasbourg, France
Databáze: OpenAIRE