Degradation of AlGaN/GaN HET devices: role of reverse vias and hot electron stress
| Autor: | Gaudenzio Meneghesso, matteo meneghini, Stocco, Antonio, Bisi, Davide, Carlo De Santi, Rossetto, Isabella, Zanandrea, Alberto, Andrea Cester, Rampazzo, Fabiana, ENRICO ZANONI |
|---|---|
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2013 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | Università degli Studi di Padova-IRIS |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
|