Front End of Line, Back End of Line, and Packaging Contribution to Soft Errors Induced by Alpha Particles

Autor:	Gedion, M., Wrobel, Frédéric, Saigné, Frédéric
Přispěvatelé:	Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Eric, Dauverchain
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2010
Předmět:	[SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics ComputingMilieux_MISCELLANEOUS [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
Zdroj:	47th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference 47th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference, 2010, Denver, United States
Popis:	International audience
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::26acc5e4a2b109e77ae61bbda8cd87c2 https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01823034 Zobrazit plný text záznamu