Вплив активних обробок на фотоелектричні характеристики структур на основі плівок CdTe
Autor: | Klyui, N. I., Kostylyov, V. P., Lukyanov, A. N., Makarov, A. V., Chernenko, V. V., Khripunov, G. S., Kharchenko, N. M., Meriuts, A. V., Tetiana Shelest, Lee, T. A., Klyui, A. N. |
---|---|
Jazyk: | ukrajinština |
Rok vydání: | 2012 |
Zdroj: | Ukrainian Journal of Physics; Vol. 57 No. 5 (2012); 538 Український фізичний журнал; Том 57 № 5 (2012); 538 Scopus-Elsevier |
ISSN: | 2071-0194 2071-0186 |
DOI: | 10.15407/ujpe57.5 |
Popis: | Photoelectric characteristics of ITO/CdTe structures fabricated by the thermal evaporation in vacuum followed by their deposition in a quasiclosed volume have been studied before and after treatments of various kinds. Some specimens were subjected to a "chloride" treatment, the others were annealed in air. Afterward, the specimenswere treated in hydrogen plasma, and they were covered with a thin diamond-like carbon film. The "chloride" treatment of ITO/CdTe structures is shown to result in an increase of the diffusion length of charge carriers in the CdTe layer. The thermal annealing did not affect this parameter, but significantly enhanced the photosensitivity, which means a reduction of the surface recombination rate in the surface CdTe layer. For all considered ITO/CdTe structures obtained by the thermal evaporation in vacuum, the following treatment in hydrogen plasma and the deposition ofthin diamond-like films brought about a substantial increase in the diffusion length of charge carriers in the CdTe layer. The ITO/CdTe structures obtained by the thermal vacuum evaporation and treated with hydrogen plasma demonstrated a significant enhancement of their spectral sensitivity in a wavelength range of 400–800 nm, whereas the same effect for structures subjected to the "chloride" treatment was obtained after the sequential hydrogen plasmatreatment and the diamond-like carbon film deposition. Досліджено фотоелектричні характеристики структур ITO/CdTe, виготовлених методом термічного вакуумного випаровування та шляхом осадження у квазізамкненому об'ємі до та після різних обробок. Частина зразків проходила "хлоридну" обробку, інша – відпал на повітрі. Після цього проводилась обробка зразків у плазмі водню та нанесення на них тонкої алмазоподібної плівки. Показано, що проведення "хлоридної" обробки структур ІТО/CdTe приводить до збільшення дифузійної довжини носіїв заряду у шарі CdTe. Проведення термовідпалу не впливає на значення дифузійної довжини носіїв заряду у шарі CdTe, але значно підвищує фоточутливість, що свідчить про зменшення на поверхні шару CdTe швидкості поверхневої рекомбінації. Шляхом комбінації термовідпалу, "хлоридної" обробки, плазмової обробки у водні та нанесення тонких алмазоподібних плівок отримано збільшення довжини дифузії носіїв заряду у шарі CdTe в усіх досліджуваних структурах ІТО/CdTe. На структурах ІТО/CdTe, отриманих термічним вакуумним випаровуванням, обробка у плазмі водню приводила до значного збільшення спектральної чутливості у діапазоні довжин хвиль 400–800 нм, а на структурах, які пройшли "хлоридну" обробку, значне збільшення спектральної чутливості досягалось після обробки у плазмі водню нанесення алмазоподібних плівок. |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |