Mesure de la permittivité complexe du polydimethylsiloxane (PDMS) jusqu'à 220 GHz pour la mise en oeuvre d'une électronique souple
| Autor: | Pierre-Yves Cresson, Yovan Orlic, Jean-François Legier, Erick Paleczny, Luc Dubois, Philippe Coquet, Nicolas Tiercelin, Sami Hage-Ali, Philippe Pernod, Vladimir Preobrazhensky, Tuami Lasri |
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| Přispěvatelé: | Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF) |
| Zdroj: | HAL Actes des 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014 13èmes Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, JCMM2014, 2014, Nantes, France. article 9, 4 p |
| Popis: | Des lignes coplanaires sont réalisées sur un film souple de Polydimethylsiloxane (PDMS) de 182 μm d'épaisseur. Après avoir mesuré les paramètres [S] de ces lignes, des algorithmes ajustent la permittivité complexe du matériau pour que les valeurs des constantes de propagation extraites des mesures et celles calculées au moyen de codes électromagnétiques coïncident. Ainsi, la permittivité relative vaut respectivement 2.70 et 2.56 à 30 et 210 GHz tandis que la tangente de l'angle de pertes croit très lentement pour atteindre la valeur de 0.048 à 210 GHz. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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