Formation aux mesrures de diffuision RMN à gradients de champs pulsés

Autor: Guenneau, F.
Přispěvatelé: Systèmes interfaciaux à l'echelle nanometrique (SIEN), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: francouzština
Rok vydání: 2005
Zdroj: Formation interne laboboratoire
Formation interne laboboratoire, Jan 2005, Paris, France
Databáze: OpenAIRE