Caractérisation de marqueurs photoluminescents de l'histoire thermique
| Autor: | Stéphane Amiel, Etienne Copin, Thierry Sentenac, Yannick Le Maoult, PHILIPPE LOURS |
|---|---|
| Přispěvatelé: | Institut Clément Ader (ICA), Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace (ISAE-SUPAERO)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT École nationale supérieure des Mines d'Albi-Carmaux (IMT Mines Albi), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-IMT École nationale supérieure des Mines d'Albi-Carmaux (IMT Mines Albi), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace (ISAE-SUPAERO) |
| Jazyk: | francouzština |
| Rok vydání: | 2016 |
| Předmět: |
[SPI]Engineering Sciences [physics]
[SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic [CHIM]Chemical Sciences [STAT.CO]Statistics [stat]/Computation [stat.CO] [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing [STAT.ME]Statistics [stat]/Methodology [stat.ME] [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials |
| Zdroj: | SFT 2016-Congrès annuel de la Société Française de Thermique SFT 2016-Congrès annuel de la Société Française de Thermique, May 2016, Toulouse, France. 8 p HAL |
| Popis: | National audience; Les marqueurs photoluminescents sont une solution pour la mesure de température de surface et en profondeur de matériaux utilisés dans de nombreux secteurs industriels. Ces marqueurs grâce à l’évolution permanente des propriétés d’émission de fluorescence avec la température et la durée d’exposition constituent un indicateur de l’histoire thermique de ces matériaux. Ces évolutions doivent être caractérisées précisément pour construire les courbes d’étalonnage propres à chaque marqueur utilisé. |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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