PFS - Improving the Design for Testability of Integrated Circuits Using Formal Methods and AI Techniques

Autor:	Habiby, Payam
Jazyk:	angličtina
Rok vydání:	2022
Předmět:	Microelectronics Spinitronics Integrated circuits Microelectrònica Circuits integrats Espintrònica Enginyeria electrònica::Microelectrònica [Àrees temàtiques de la UPC]
Zdroj:	UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0ae815b95bd675458eea7953e7d2cd5f https://hdl.handle.net/2117/369985 Zobrazit plný text záznamu