Plasmas Processes Challenges for Porous SiCOH Integration in Advanced Interconnects

Autor: Chevolleau, T., Darnon, Maxime, Posseme, N., David, T., Bouyssou, R., Bailly, F., Ducote, J., Licitra, C., Verove, C., Joubert, O.
Přispěvatelé: Clot, Marielle, Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Jazyk: angličtina
Rok vydání: 2012
Předmět:
Zdroj: Materials Research Society spring meeting
Materials Research Society spring meeting, Apr 2012, San francisco, United States
Popis: International audience
Databáze: OpenAIRE