Quantitative determination of the local dielectric permittivity of ultrathin films at Nanoscale by means of Electrostatic Force Microscopy
| Autor: | Riedel , Clément, Arinero , Richard, Tordjeman , Philippe, Schwartz , Gustavo Ariel, De Oteyza , D. G., Alegría , Angel, Ramonda , Michel, Colmenero , Juan, LEVEQUE , Gérard |
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| Přispěvatelé: | Institut d’Electronique et des Systèmes ( IES ), Université de Montpellier ( UM ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Institut de mécanique des fluides de Toulouse ( IMFT ), Institut National Polytechnique [Toulouse] ( INP ) -Université Paul Sabatier - Toulouse 3 ( UPS ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Centro de Fisica de Materiales ( CFM ), Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea ( UPV/EHU ) -Consejo Superior de Investigaciones Científicas [Spain] ( CSIC ), Donostia International Physics Center - DIPC (SPAIN), Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea ( UPV/EHU ), University of the Basque Country [Bizkaia] ( UPV/EHU ), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge (NANOMIR), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de mécanique des fluides de Toulouse (IMFT), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Centro de Fisica de Materiales (CFM), Consejo Superior de Investigaciones Científicas [Madrid] (CSIC)-Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea [Espagne] (UPV/EHU), Donostia International Physics Center (DIPC), University of the Basque Country/Euskal Herriko Unibertsitatea (UPV/EHU)-University of the Basque Country/Euskal Herriko Unibertsitatea (UPV/EHU), Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea [Espagne] (UPV/EHU), University of the Basque Country [Bizkaia] (UPV/EHU) |
| Jazyk: | angličtina |
| Rok vydání: | 2009 |
| Předmět: | |
| Zdroj: | XI International Scanning Probe Microscopy Conference XI International Scanning Probe Microscopy Conference, Jun 2009, Madrid, Spain |
| Popis: | International audience |
| Databáze: | OpenAIRE |
| Externí odkaz: |
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