Niobium Contamination in Silicon

Autor: Polignano ML, Codegoni D, Borionetti G, Bonoli F, Brivio J, Greco S, Marino A, Monge P, Patoprsta I, Privitera V, Riva C
Rok vydání: 2010
Zdroj: 218th ECS Meeting: E6-High Purity Silicon 11, Las Vegas, USA, 2010
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Databáze: OpenAIRE