Charge retention phenomena in charge transfer silicon nitride: impact of technology and operating conditions

Autor:	G. Ghidini, N. Galbiati, E. Mascellino, C. Scozzari, A. Sebastiani, S. Amoroso, C. Monzio Compagnoni, A. Sottocornola Spinelli, A. Maconi, R. Piagge, A. Del Vitto, M. Alessandri, I. Baldi, E. Moltrasio, G. Albini, A. Grossi, P. Tessariol, E. Camerlen
Rok vydání:	2011
Zdroj:	29 (2011). info:cnr-pdr/source/autori:G. Ghidini, N. Galbiati, E. Mascellino, C. Scozzari, A. Sebastiani, S. Amoroso, C. Monzio Compagnoni, A. Sottocornola Spinelli, A. Maconi, R. Piagge, A. Del Vitto, M. Alessandri, I. Baldi, E. Moltrasio, G. Albini, A. Grossi, P. Tessariol, E. Camerlen/titolo:Charge retention phenomena in charge transfer silicon nitride: impact of technology and operating conditions/doi:/rivista:/anno:2011/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine:/volume:29
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=cnr_________::59b965cda20fafea81e6afaea17e1f4d https://publications.cnr.it/doc/25712 Zobrazit plný text záznamu