Micro-twin Defects in InSb/AlInSb layers grown on (001) GaAs ∼ Application of the 〈1̄16〉-directional TEM analysis ∼
Autor: | Mishima, T.D., Santos, M.B. |
---|---|
Rok vydání: | 2010 |
Předmět: | |
Zdroj: | Physics Procedia. 3(2):1373-1377 |
ISSN: | 1875-3892 |
DOI: | 10.1016/j.phpro.2010.01.194 |
Databáze: | OpenAIRE |
Externí odkaz: |