Micro-twin Defects in InSb/AlInSb layers grown on (001) GaAs ∼ Application of the 〈1̄16〉-directional TEM analysis ∼

Autor:	Mishima, T.D., Santos, M.B.
Rok vydání:	2010
Předmět:	Physics and Astronomy(all)
Zdroj:	Physics Procedia. 3(2):1373-1377
ISSN:	1875-3892
DOI:	10.1016/j.phpro.2010.01.194
Databáze:	OpenAIRE
Externí odkaz:	https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=base_oa_____::9a4100070b6ea8a9d87ba99a87e32568 Zobrazit plný text záznamu