Flip-Chip-Lotbumps thermisch-zyklisch belastet

Autor: Eberle, Arno, Sievert, Rainer, Schiller, Wolfgang Arno
Zdroj: Materialpruefung. Materials Testing. Materiaux Essais et Recherches; September 1998, Vol. 40 Issue: 9 p350-352, 3p
Databáze: Supplemental Index