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En raison de leur faible section efficace d'interaction avec la matière les rayons X ne sont pas d'une utilisation universelle pour l'étude des surfaces des matériaux. Ils apportent cependant des informations essentielles grâce à quelques méthodes d'utilisation courante. Si on joue avec les diverses interactions des rayons X on peut sonder les premiers nanomètres du matériau soit en travaillant en incidence extrêmement rasante, soit en analysant des électrons émis par le matériau ayant un libre parcours moyen dans la matière inférieur à quelques nanomètres, soit en étudiant la fluorescence X issue des couches superficielles. La photoémission (XPS ou ESCA) est une des plus puissantes méthodes d'analyse des surfaces. Elle permet aussi d'obtenir des indications sur la structure cristallographique de la surface (XPD). L'étude des structures fines au voisinage des seuils d'absorption est une excellente méthode d'analyse de l'ordre local, valable pour les surfaces et pour les interfaces enterrées (EXAFS ou SEXAFS). L'apport du rayonnement synchrotron, source intense de lumière polarisée, a permis, outre le développement de l'XPD et de l'EXAFS, de mettre au point des spectroscopies sensibles au magnétisme de surface (dichrolsme magnétique en photoémission). |
