X-ray study of the Ag/Si(111) interface
Autor: | Aburano, R. D., Hong, H., Roesler, J. M., Lin, D.-S. |
---|---|
Zdroj: | Surface Science; 1995, Vol. 339 Issue: 1 pL891-L891, 1p |
Databáze: | Supplemental Index |
Externí odkaz: |
Autor: | Aburano, R. D., Hong, H., Roesler, J. M., Lin, D.-S. |
---|---|
Zdroj: | Surface Science; 1995, Vol. 339 Issue: 1 pL891-L891, 1p |
Databáze: | Supplemental Index |
Externí odkaz: |