Autor:	Bart, S. F., Zhang, S., Rabinovich, V. L., Cunningham, S.
Zdroj:	Microelectronics Reliability; 2000, Vol. 40 Issue: 7 p1235-1241, 7p
Databáze:	Supplemental Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect