Early-life reliability prediction methodology for integrated circuits

Autor:	Menon, S. S., Poole, K. F.
Zdroj:	Microelectronics Reliability; 1995, Vol. 35 Issue: 8 p1147-1147, 1p
Databáze:	Supplemental Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect