Oxide-nitride-oxide antifuse reliability.

Autor:	Chiang, S., Wang, R., Chen, J., Hayes, K., McCollum, J., Hamdy, E., Hu, C.
Zdroj:	28th Annual Proceedings on Reliability Physics Symposium; 1990, p186-192, 7p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu