Reliability constraints for TANOS memories due to alumina trapping and leakage.
Autor: | Amoroso, S.M., Mauri, A., Galbiati, N., Scozzari, C., Mascellino, E., Camozzi, E., Rangoni, A., Ghilardi, T., Grossi, A., Tessariol, P., Compagnoni, C.M., Maconi, A., Lacaita, A.L., Spinelli, A.S., Ghidini, G. |
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Zdroj: | 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p966-969, 4p |
Databáze: | Complementary Index |
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