Reliability constraints for TANOS memories due to alumina trapping and leakage.

Autor: Amoroso, S.M., Mauri, A., Galbiati, N., Scozzari, C., Mascellino, E., Camozzi, E., Rangoni, A., Ghilardi, T., Grossi, A., Tessariol, P., Compagnoni, C.M., Maconi, A., Lacaita, A.L., Spinelli, A.S., Ghidini, G.
Zdroj: 2010 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2010, p966-969, 4p
Databáze: Complementary Index