Autor:	Berry, I.L., Waldfried, C., Han, K., Luo, S., Sonnemans, R., Ameen, M.
Zdroj:	Extended Abstracts - 2008 8th International Workshop on Junction Technology (IWJT '08); 2008, p87-92, 6p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu