Implantation angle influence on penetration of boron channelled ionsinto silicon

Autor: Diasamidze, E. M., Guldamashvili, A. I., Gverdtsiteli, I. G., Muralev, V. A., Kumakhov, M. A., Kalinin, A. N., Zaslavsky, S. A.
Předmět:
Zdroj: Radiation Effects; 1973, Vol. 19 Issue 3, p171, 0p
Databáze: Complementary Index