Implantation angle influence on penetration of boron channelled ionsinto silicon
Autor: | Diasamidze, E. M., Guldamashvili, A. I., Gverdtsiteli, I. G., Muralev, V. A., Kumakhov, M. A., Kalinin, A. N., Zaslavsky, S. A. |
---|---|
Předmět: | |
Zdroj: | Radiation Effects; 1973, Vol. 19 Issue 3, p171, 0p |
Databáze: | Complementary Index |
Externí odkaz: |