Scanning electron microscopy/1978. Om Johari Ed., Scanning Electron Microscopy Inc., O'Hare, Ill., 1978, 2 vols, 2032 pp.

Autor:	Heinrich, K. F. J.
Zdroj:	XRS: X-ray Spectrometry; Jan1979, Vol. 8 Issue 1, pvi-vii, 2p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text