Vergleichende EMV-Untersuchungen auf Geräte- und IC-Ebene.

Autor: Lamedschwandner, K., Deutschmann, B., Winkler, G., Ostermann, T.
Zdroj: e & i Elektrotechnik und Informationstechnik; Feb2006, Vol. 123 Issue 1/2, p9-14, 6p
Databáze: Complementary Index