Autor:	晏石兴, 王祖军, 唐宁, 吕玉冰, 王小东, 李传洲, 蒋镕羽
Předmět:	CCD image sensors METAL oxide semiconductors CHARGE coupled devices RADIATION damage THRESHOLD voltage IRRADIATION
Zdroj:	Atomic Energy Science & Technology; Nov2024, Vol. 58 Issue 11, p2412-2418, 7p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu