Autor:	郭岳松, 黄维安, 朱立鑫, 王涛, 李宏港, 杨雄
Předmět:	VAN der Waals forces SCANNING electron microscopy HIGH temperatures POLYACRYLAMIDE X-ray diffraction
Zdroj:	China Sciencepaper; Jun2024, Vol. 19 Issue 6, p629-635, 7p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu