空间辐射环境下 SiC 功率 MOSFET 栅氧长期 可靠性研究.

Autor: 杜卓宏, 肖一平, 梅 博, 刘超铭, 孙 毅
Zdroj: Electronic Components & Materials; feb2024, Vol. 43 Issue 2, p182-189, 8p
Databáze: Complementary Index