H 型栅 NMOS 器件 Kink 效应的研究.

Autor: 徐大为, 彭宏伟, 秦鹏啸, 王青松, 董海南
Zdroj: Electronic Components & Materials; Jan2024, Vol. 43 Issue 1, p55-60, 6p
Databáze: Complementary Index