Autor:	曹晟, 张锋, 刘绍祥, 陈思凯, 赵杨, 石轩, 赵洪泉
Předmět:	FIELD-effect transistors RAMAN spectroscopy technique ENERGY dispersive X-ray spectroscopy X-ray photoelectron spectroscopy CHEMICAL vapor deposition PHOTOELECTRICITY X-ray emission spectroscopy
Zdroj:	Journal of Synthetic Crystals; May2023, Vol. 52 Issue 5, p849-856, 8p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu