Nd:YAG/Cr:YAG microchip-based system for laser-induced damage threshold measurement.

Autor: Šulc, Jan, Němec, Michal, Vyhlídal, David, Jelínková, Helena, Nejezchleb, Karel, Uxa, Štěpán
Zdroj: Proceedings of SPIE; 1/2/2023, Vol. 12399, p123990P-123990P-6, 1p
Databáze: Complementary Index