Autor:	Lee, Martin, Renshof, Johannes R., van Zeggeren, Kasper J., Houmes, Maurits J. A., Lesne, Edouard, Šiškins, Makars, van Thiel, Thierry C., Guis, Ruben H., van Blankenstein, Mark R., Verbiest, Gerard J., Caviglia, Andrea D., van der Zant, Herre S. J., Steeneken, Peter G.
Zdroj:	Advanced Materials; 11/3/2022, Vol. 34 Issue 44, p1-9, 9p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text