Autor:	Kirkland, AI, Kim, J. S., Allen, C. S., Huang, C., Liberti, E, O'Leary, CM, Nellist, P. D., Wang, P.
Zdroj:	Microscopy & Microanalysis; 2022 Supplement, Vol. 28, p352-354, 3p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu