Zastosowanie algorytmu genetycznego w procesie estymacji parametrów modeli przyrządów półprzewodnikowych.

Autor:	BISEWSKI, Damian
Předmět:	PARAMETER estimation METAL oxide semiconductor field-effect transistors ALGORITHMS GENETIC algorithms
Zdroj:	Przegląd Elektrotechniczny; 2022, Vol. 98 Issue 9, p103-106, 4p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu