Atomic force microscopy and Raman spectroscopy of nanoscale Si/SiO2superlattices.

Autor:	Krishnan, R., Grom, G. F., Fauchet, P. M., Tsybeskov, L., Papernov, S., Sproule, G.I, Lockwood, D.J.
Zdroj:	MRS Online Proceedings Library; 2000, Vol. 638 Issue 1, p1-6, 6p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full text from SpringerLink