基于统计检验的光电耦合器寿命预测模型研究.

Autor: 石 颉, 孔维相, 袁晨翔, 赵德宇, 陆 群
Zdroj: Electronic Components & Materials; Apr2020, Vol. 39 Issue 4, p68-79, 8p
Databáze: Complementary Index