DEGRADATION PROCESSES IN THE AI-TI-SI SYSTEM UNDER THERMAL SHOCK.

Autor:	SKVORTSOV, Arkadiy A., KORYACHKO, Marina V., ZUEV, Sergei M., RYBAKOVA, Margarita R.
Předmět:	THERMAL shock MELTING points CHEMICAL stability METALLIC films SHORT circuits ELECTRICAL conductors CURRENT density (Electromagnetism) SQUARE waves
Zdroj:	Periódico Tchê Química; 2020, Vol. 17 Issue 34, p335-342, 8p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu