PHONON-INDUCED 1/F NOISE IN MOS TRANSISTORS.

Autor:	MIHAILA, MIHAI N.
Předmět:	ELECTRIC noise METAL oxide semiconductor field-effect transistors SURFACE phonons PHONON spectra ACTIVATION energy
Zdroj:	Noise in Physical Systems & 1/F Fluctuations: Icnf 2001, Procs of the 16th Intl Conf; 2001, p169-172, 4p
Databáze:	Complementary Index
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu